专利号：CN114396898A
专利名称：一种多点并行可调节的非接触式平面度测量系统及方法
申请日：2022-01-20
专利类型：发明申请
战略新兴产业分类：卫星及应用产业
项目详情：一种多点并行可调节的非接触式平面度测量系统及方法，涉及传感器测量技术领域，一方面提出了一种多点并行可调节的非接触式平面度测量系统，具有可调节、非接触式的特点，适用于不同尺寸星载电子设备，包括机架组件模块、点激光位移传感器、数据采集卡、传感器托盘模块、电源模块、光电开关模块和计算机控制系统；同时提出了一种多点并行可调节的非接触式平面度测量系统及方法，用于实现所述多点并行可调节的非接触式平面度测量系统；通过对生产流水线上的不同尺寸的设备安装面进行实时测量，节约生产时间和资源成本，提高生产流程中测量设备平面度的效率。
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