专利号：CN115661079A
专利名称：一种基于OCT的衰减成像方法
申请日：2022/10/27
专利类型：发明申请
战略新兴产业分类：
项目详情：本发明提供一种基于OCT的衰减成像方法，将OAC的计算限制在一个具有相同类型介质的局部区域内，避免由于不同介质BsAR的不同对OAC结果造成的影响。传统DR方法在计算具有多层介质的复杂样品的OAC时，会出现偏差。主要表现在深层介质存在超高或超低信号时，会对浅层介质的OAC造成影响。若深层存在超高信号，浅层OAC结果会偏低；相反，深层存在超低信号，则浅层OAC结果会偏高。本发明方法通过将OAC计算限制在仅包含同种类型介质的局部区域内，解决了基于局部数据的剩余光强估计问题。从而使OAC的计算不受其他层介质的干扰，计算结果更加准确。
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